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麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会圆满结束

麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司  2011-08-01  点击1311次

          2011年7月19日-7月25日,麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会.

 

 
     研讨会主题为物理吸附与化学吸附的理论与实践,麦克仪器资深专家jeff kenvin博士与jacek jagiello博士,报告了物理吸附与化学吸附基本理论,并与实践经验相结合,引起与会专家学者和业内同仁们热烈的反响和讨论。

 

        此次研讨会为颗粒表征与技术工作者提供了一次宝贵的学习、交流平台,取得了良好的效果,与会代表纷纷示这次研讨会对他们的工作帮助很大,希望以后能够继续参加类似的活动。
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